Jan 16, 2019
Apr 4, 2018
23
13
https://www.dbc.wroc.pl/publication/44849
Edition name | Date |
---|---|
Effect of uniform stress on SiO2/Si interface in oxygen-implanted Si and SIMOX structures | Jan 16, 2019 |
Bąk-Misiuk, Jadwiga Misiuk, Andrzej Domagała, Jarosław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Sęk, Grzegorz Ciorga, Mariusz Bryja, Leszek Misiewicz, Jan Radziewicz, Damian Ściana, Beata Tłaczała, Marek Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stręk, Wiesław Makuszewski, Krzysztof Jasiorski, Marek Łukowiak, Edward Bryja, Leszek Ciorga, Mariusz Sitarek, Piotr Misiewicz, Jan Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wasiak, Michał Bugajski, Maciej Machowska-Podsiadło, Elżbieta Ochalski, Tomasz Kątcki, Jerzy Sarzała, Robert P. Maćkowiak, Paweł Czyszanowski, Tomasz Nakwaski, Włodzimierz Chen, J. X. Oesterle, Ursula Fiore, Andrea Ilegems, Mark Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Jung, Wojciech Misiuk, Andrzej Londos, Charalambos A. Yang, Deren Antonova, Irina V. Prujszczyk, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Dyksik, M. Motyka, M. Rygała, M. Pfenning, A. Hartmann, F. Weih, R. Worschech, L. Höfling, S. Sęk, G. Urbańczyk, Wacław. Redakcja
He, Zhengrui Jin, Jie Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wu, Yingchun Cheng, Xing Liang, Jie Wang, Anhong Zhao, Xianling Urbańczyk, Wacław. Redakcja