Baklanov, Mikhail R. ; Mogilnikov, Konstantin P.
Gaj, Kazimierz. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 30, 2000, nr 4, s. 491-496
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 30, 2000 ; Optica Applicata, Vol. 30, 2000, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
23 mar 2018
133
155
https://www.dbc.wroc.pl/publication/45147
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Characterization of porous dielectric films by ellipsometric porosimetry | 16 sty 2019 |
Shamiryan, Denis Baklanov, Mikhail R. Yanovitskaya, Zoya S. Zverev, Alexey V. Tõkei, Zsolt Iacopi, Francesca Maex, Karen Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Romanowski, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Dobierzewska-Mozrzymas, Ewa Gaj, Miron. Redakcja
Marcinów, Tadeusz Wesołowska, Cecylia Wiktorczyk, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Rattan, R. Gupta, A. K. Singh, K. Gaj, Miron. Redakcja
Kaczmarek, Franciszek Mietlarek, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Bissinger, Janusz Raczyński, Krzysztof Gaj, Miron. Redakcja
Pawlikowski, Janusz Marek Majchrowska, Ewa Kochan, Bogdan Gaj, Miron. Redakcja