Bodurov, Ivan ; Yovcheva, Temenuzhka ; Sainov, Simeon
Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 2, s. 199-204
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa150206 ; oai:dbc.wroc.pl:37643
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
27 sie 2025
16 paź 2017
50
72
https://www.dbc.wroc.pl/publication/41660
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Five-wavelength laser microrefractometer | 27 sie 2025 |
Ferria, Kouider Laouar, Naamane Bouaouadja, Noureddine Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Bugajski, Maciej Ochalski, Tomasz Piwoński, Tomasz Wawer, Dorota Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Pustelny, Tadeusz Ignac-Nowicka, Jolanta Opilski, Zbigniew Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Sivanantha Raja, A. Selvendran, S. Priya, R. Mahendran, C. Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Rybiński, Janusz Bednarek, Michał Wiśniewski, Przemysław Świetlik, Tomasz Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Priya, R. Sivanantharaja, A. Selvendran, S. Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wójcik-Jedlińska, Anna Wasiak, Michał Kosiel, Kamil Bugajski, Maciej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Li, Jianmin Chen, Peng Fang, Bo Cai, Jinhui Zhang, Le Wu, Yinglai Jing, Xufeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja