Yin, Aijun ; Yang, Zhengyi ; Long, Guangqian
Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 1, s. 113-123
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa150111 ; oai:dbc.wroc.pl:37635
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
27 sie 2025
16 paź 2017
152
166
https://www.dbc.wroc.pl/publication/41652
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Precise sub-pixel size measurement with linear interpolation | 27 sie 2025 |
Yin, Aijun Dai, Zongxian Chen, Benqian Li, Kongjing Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Romanowski, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Dobierzewska-Mozrzymas, Ewa Gaj, Miron. Redakcja
Marcinów, Tadeusz Wesołowska, Cecylia Wiktorczyk, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Rattan, R. Gupta, A. K. Singh, K. Gaj, Miron. Redakcja
Kaczmarek, Franciszek Mietlarek, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Bissinger, Janusz Raczyński, Krzysztof Gaj, Miron. Redakcja
Pawlikowski, Janusz Marek Majchrowska, Ewa Kochan, Bogdan Gaj, Miron. Redakcja