Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 4, s. 677-692
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008 ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
26 mar 2019
26 mar 2019
88
https://www.dbc.wroc.pl/publication/115155
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Skew ray tracing and error analysis of optical elements with ellipsoid boundary surfaces | 26 mar 2019 |
Liao, Te-Tan Kung, Chieh Chen, Chun-Ta Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Te-Tan Liao Psang Dain Lin Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stefaniak, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Dubik, Bogusława Gaj, Miron. Redakcja
Stadnik, Bohumil Gaj, Miron. Redakcja