Venhryn, B.Ya. ; Grygorchak, I.I. ; Kulyk, Yu.O. ; Mudry, S.I. ; Shvets, R.Ya.
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 1, s. 119-125
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008 ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Mar 21, 2019
Mar 21, 2019
112
https://www.dbc.wroc.pl/publication/113955
| Edition name | Date |
|---|---|
| Porous structure of carbon-based materials studied by means of X-ray small angle scattering method | Mar 21, 2019 |
Antropova, Tatiana Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Drozdova, Irina Antropova, Tatiana Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Antropova, Tatiana V. Volkova, Anna V. Petrov, Dmitry V. Stolyar, Sergei V. Ermakova, Ludmila E. Sidorova, Marianna P. Yakovlev, Evgeny B. Drozdova, Irina A. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stefaniak, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Dubik, Bogusława Gaj, Miron. Redakcja