Object
No title
Resource Identifier:
Format:
Object collections:
- Lower Silesian Digital Library > Participants of the Consortium > 01. Wrocław University of Science and Technology > Journals WUoT > Journals published at Wrocław University of Technology > Optica Applicata
- Lower Silesian Digital Library > Resources > 2. Czasopisma > Czasopisma współczesne
- Lower Silesian Digital Library > Fields of science > 6. Nauki ścisłe i przyrodnicze
Last modified:
Jan 16, 2019
In our library since:
Dec 12, 2018
Number of object content hits:
1 618
Number of object content views in PDF format
1597
All available object's versions:
https://www.dbc.wroc.pl/publication/95185
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
| Edition name | Date |
|---|---|
| Thin film thickness determination using X-ray reflectivity and Savitzky–Golay algorithm | Jan 16, 2019 |
Similar
Gotszalk, Teodor P. Janus, Paweł Marendziak, Andrzej Szeloch, Roman F. Gaj, Miron. Redakcja
Skwierczyński, Jan M. Małozięć, Grzegorz Kopiec, Daniel Nieradka, Konrad Radojewski, Jacek Gotszalk, Teodor P. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Korbutowicz, Ryszard Wnęk, Jan Panachida, Paweł Serafińczuk, Jarosław Srnanek, Rudolf Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Serafińczuk, Jarosław Pawlaczyk, Łukasz Podhorodecki, Artur Gaponenko, Nikolai Molchan, Igor Thompson, George Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Motyka, Marcin Gelczuk, Łukasz Dąbrowska-Szata, Maria Serafińczuk, Jarosław Kudrawiec, Robert Misiewicz, Jan Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Serafińczuk, Jarosław Dziedzic, Andrzej. Promotor
Puzewicz, Z. Mierczyk, Z. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Kalestyński, A. Gaj, Kazimierz. Redakcja
