An on-line phase measuring profilometry based on modulation
Tytuł publikacji grupowej: Autor:Yingchun, Wu ; Yiping, Cao ; Mingteng, Lu ; Kun, Li
Temat i słowa kluczowe:optyka ; on-line inspection ; phase measuring profilometry (PMP) ; Stoilov’s algorithm ; pixel matching ; modulation
Opis:Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 1, s. 31-41
Wydawca:Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Miejsce wydania: Data wydania: Typ zasobu: Format: Identyfikator zasobu: Źródło:<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Język: Powiązania:Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012 ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Prawa:Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Prawa dostępu:Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Lokalizacja oryginału: