Title:
Measurement of stress as a function of temperature in Ag and Cu thin films
Group publication title:
Creator:
Proszyński, Adam ; Chocyk, Dariusz ; Gładyszewski, Grzegorz ; Pieńkos, Tomasz ; Gładyszewski, Longin
Contributor:
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Subject and Keywords:
optyka ; annealing ; stress measurements ; thin films
Description:
Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3, s. 517-522
Abstrakt:
Publisher:
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Place of publication:
Date:
Resource Type:
Source:
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Language:
Relation:
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005 ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Rights:
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Access Rights:
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku