X-ray, AFM, UV–VIS–IR analysis of a-Si:H/μc-Si:H supperlattice structure - Kołodziej, Andrzej; Baranowski, Witold; Kusior, Edward; Kanak, Jarosław (Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2011)
Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 449-454
Keywords: optyka; X-ray; atomic force microscopy (AFM); UV–VIS–IR analysis; nc-Si:H multilayer structure