Thin film thickness determination using X-ray reflectivity and Savitzky–Golay algorithm - Serafińczuk, Jarosław; Pietrucha, Jakub; Schroeder, Grzegorz; Gotszalk, Teodor P. (Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2011)
Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 315-322
Keywords: optyka; X-ray reflectivity; thickness determination; Savitzky–Golay algorithm