Ellipsometric investigation of CdTe films - Evmenova, Anna; Odarych, Volodymyr; Vuichyk, Mykola (Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2012)
Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 3, s. 667-675
Keywords: optyka; cadmium telluride thin films; film thickness; optical parameters