Detekcja sygnału i technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym w zakresie niskiej próżni - Krysztof, Michał (Politechnika Wrocławska, 2010)
W pracy opisano system detekcji elektronów wtórnych, przeznaczony do pracy w niskiej próżni. System zintegrowany jest z systemem próżniowym, tworząc wyposażenie dodatkowe dla standardowych SEM. Budowa systemu optymalizowana była za pomocą opracowanego specjalnie do tego celu programu wykorzystującego metodę Monte Carlo
Keywords: detekcja elektronów wtórnych; metoda Monte Carlo; skaningowa mikroskopia elektronowa