@misc{Szeloch_Roman_F._Thermal_2003,
 author={Szeloch, Roman F. and Gotszalk, Teodor Paweł and Janus, Paweł},
 contributor={Gaj, Miron. Redakcja and Wilk, Ireneusz. Redakcja},
 year={2003},
 rights={Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)},
 publisher={Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej},
 description={Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 4, s. 669-676},
 language={eng},
 title={Thermal characterization of micro-devices with far and near field microscopy},
 type={artykuł},
 keywords={optyka, scanning thermal microscopy, thermal characterization, AFM},
}