@misc{Chocyk_Dariusz_Determination_2002,
 author={Chocyk, Dariusz and Prószyński, Adam and Gładyszewski, Grzegorz and Labat, Stephane and Gergaud, Patrice and Thomas, Olivier},
 contributor={Gaj, Miron. Redakcja and Wilk, Ireneusz. Redakcja},
 year={2002},
 rights={Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)},
 publisher={Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej},
 description={Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3, s. 333-337},
 language={eng},
 title={Determination of stress in Au/Ni multilayers by symmetric and asymmetric X-ray diffraction},
 type={artykuł},
 keywords={optyka},
}